По справочной литературе определим значения интенсивности отказов, соответствующие в среднем элементам каждой группы :
| Группа элементов | Количество элементов в группе n | Интенсивности отказов | Произведение |
| Конденсаторы К10У-1±5% ОЖО.460.052 ТУ | 4 | 0,05 | 0,2 |
| Конденсаторы МБГ±10% 16В Гост 7112-54 | 2 | 0,25 | 0,5 |
| Микросхема К1816ВЕ31 УЖ3.322.071 ТУ | 1 | 0,45 | 0,45 |
| Микросхемы по УЖ3.322.033 ТУ | 8 | 0,4 | 3,2 |
| Светодиод АЛ324А аАО.806.002 ТУ | 2 | 0,27 | 0,54 |
| Светодиод АЛ102 аАО.436.601 ТУ | 1 | 0,7 | 0,7 |
| Резисторы ОМЛТ-0.25Вт±10% ГОСТ 7113-26 | 10 | 0,15 | 1,5 |
| Транзистор К342А ФЫО.336.201 ТУ | 1 | 0,4 | 0,4 |
| Кварцевые генераторы по ТУ.04.226.014 ТУ | 2 | 0,37 | 0,74 |
| S | – | – | 8,23 |
С помощью обобщённого эксплутационного коэффициента, найденного по справочным таблицам для наземных стационарных условий , скорректируем величину lS, учтя тем самым приближенно электрический режим и условия работы элементов блока.
Примем Кэ=1,1 (помещение с регулируемой теплотой и влажностью).
lS(v)= lS* Кэ
lS(v)=1.1* 8.23*10-6=9,053*10-61/ч-1
Вероятность безотказной работы:
заданное время работы tз=10000ч.
Другое по теме:
Проектирование блока буферной памяти В настоящее время, когда компьютерные системы развиваются быстрее всего во всем мире, не говоря уже о супер стремительном росте вычислительных скоростей, появляется проблема разработки внешних дополнительных устройств, для выполнения той или ино ...