Целью курсового проекта является изучение параметров устройства измеряющего толщину покрытия объекта и его метрологические характеристики. В результате намеченной работы мы должны из существующих методов по измерению толщины покрытия, выбрать наиболее подходящий, провести метрологическую аттестацию измерительного канала и пояснить своё решение. Произвести статистическую обработку результатов многократных измерений, с последующим нормированием погрешности устройства.
- Общие понятия и определения
- Механические толщиномеры покрытий
- Электромагнитные толщиномеры
- Ультразвуковые толщиномеры
- Магнитные толщиномеры
- Вихретоковые толщиномеры
Другое по теме:
Микроконтроллеры семейства AVR фирмы Atmel В классической микропроцессорной системе используются отдельная микросхема процессора, отдельные микросхемы памяти и отдельные порты ввода вывода. Стремительное развитие микропроцессорной техники требует всё большей и большей степени интеграции ...